End-to-End Industrial Defect Detection: A Comparative Analysis of DETR and YOLOv8 Architectures on Printed Circuit Boards
Yükleniyor...
Tarih
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Erişim Hakkı
Özet
Açıklama
Uluslararası | Tam metin bildiri | YÖK-Özgeçmiş
Anahtar Kelimeler
Kaynak
UBMK 2026