Doppler cihazı ve özbağlanımlı spektral analiz metoduyla triküspit kapaktaki daralmanın tespiti
Yükleniyor...
Tarih
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Erişim Hakkı
Özet
Açıklama
Ulusal | Tam metin bildiri | YÖK-Özgeçmiş
Anahtar Kelimeler
Kaynak
SİU’95, 3. Sinyal İşleme ve Uygulamaları Kurultayı,1995, Ürgüp.